Twitter youtube in
 簡體中文 | ENGLISH
回首頁  網站地圖
 
 
設備儀器
  大型產線設備
 
  ST-8000
 
  ST-6000
 
  STCM
 
  小型實驗室儀器
 
  ST-2000
 
  ST-4000
 
  ST-5030
 
  Lab.Junior
 
  Spectra Academy
 
  OSP光學量測儀器
 
  ST-4080
 
 
半導體設備
  設備儀器
 
  TOF-MEIS (Surface Analysis System)
 
 
 
 
 
 
 
ST-4080
產品型號 : ST-4080
 
尺寸 : 500 x 610 x 640 mm
 
 
產品說明

ST4080-OSP(有機可焊性保護膜)專用於測量PCB/PW板的銅鉑表面的OSP厚度。作為使用分光反射法的非破壞性光學測量儀,它可提供平均厚度和詳細的3D平面輪廓資料,使得實時檢測無需任何的樣品製備。 由於ST4080-OSP具有測量很小面積與自動對焦功能,適用於PCB基板表面的實際量測。ST4080-OS度測量技術是沿用K-MAC光學分析量測技術,而它在半導體,平板顯示與其他電子材料行業方面的可靠性得到了證實。

測量範圍:
Measurement Wavelength Range:420nm~640nm
Measurable Thickness Range:1000Å~1.5㎛
Layer Measurement:1 layer
Spot Size:1.35㎛, 0.135㎛

Stage size: 200mm*200mm

 
 
 
首頁 | 最新消息 | 公司介紹 | 產品介紹 | 檔案下載 | 應用實績 | 相關連結 | 聯絡我們